半导体材料PCT老化试验箱 试验方法主要分成两种类型：即PCT和USPCT(HAST、现在压力蒸煮锅试验作为湿热加速试验被IEC(国际电工委员会)所标准化。

PCT老化试验箱安全装置：

1、锅内安全装置：锅门若未关紧则机器无法启动。

2、安全阀：当锅内压力超过大工作值自动排气泄压。

3、双重过热保护装置：当锅内温度过高时，机器呜叫警。

4、报并自动切断加热电源。

5、门盖保护：ABS材质制成可防止操作人员接触烫伤。

PCT老化试验箱试验：

1、试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。

2、用于调查分析何时出现电子元器件，和机械零件的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验。

3、随着半导体可靠性的提高，目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间，采用了新的压力试验方法。

半导体材料PCT老化试验箱简介：

  适合电子、电器、车辆、金属、化学、建材、通讯组件、国防工业、航天工业、电子芯片IC、IT等物理性变化的测试之用。专业模拟检测设备的企业，生产历史长、技术精。为国内多家品牌测试设备厂所配套使用,建厂三十余年,备受好评。