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半导体高低温老化试验箱/厂价直销

半导体高低温老化试验箱/厂价直销

更新日期:2024-09-20

点击次数:2825

简要描述:半导体高低温试验箱是、汽车、家电、科研等领域*的测试设备,用于测试和确定电工、电子及其他产品及材料进行高温、低温、交变湿热度或恒定试验的温度环境变化后的参数及性能;、或恒定湿热试验的温度环境变化后的参数及性能.适用于学校,工厂,,研位,等单位。

详细说明:

半导体高低温老化试验箱产品用途:

高低温交变湿热试验箱是、汽车、家电、科研等领域*的测试设备,用于测试和确定电工、电子及其他产品及材料进行高温、低温、交变湿热度或恒定试验的温度环境变化后的参数及性能;、或恒定湿热试验的温度环境变化后的参数及性能.适用于学校,工厂,,研位,等单位。

半导体高低温老化试验箱型号与参数:

型号 TH100  TH150  TH-225  TH-408  TH-800  TH-1000    

 工作尺寸 40×50×40  50×60×50  60×75×50  60×85×80  100×100×80  100×100×100    

外型尺寸cm 120×165×115  130×170×125  140×185×130  165×195×155  185×200×175  190×210×185

              

半导体高低温老化试验箱温度范围:A+25℃; B0℃;C-20℃; D-40℃;E-60℃;F-70℃)高温:100(150

符合标准

试验箱具有较宽的温湿度调节控制范围,可满足标准本产品满足GB 2423.1--2001GB 2423.22001GB2423.3-2001GB2423.4-2001等标准《电工电子产品基本环境试验规程》A:低温试验方法,试验B:高温试验方法,试验Ca:恒定湿热试验方法,试验Db:交变湿热试验方法》要求。GB 1059289GB/T5170.2-96标准制造件,并可按军标试验要求GJB150.3-86GJB150.4-86,及非标准制作各种高低温环境试验。并等效满足GJB150.9-86等相应的国标、军标;也可按客户的要求制造非标准产品。

 

半导体高低温老化试验箱也可按客户需要定制非标试验箱:

温度波动度:±0.5 

温度偏差:   ≤±2

湿度范围:3098% R#8226;H

湿度偏差: +2-3% R#8226;H

升降温平均速率:  0.7℃~1.0/min  

时间设定范围:   09999 小时

电源要求:AC380V

半导体高低温老化试验箱箱体结构:

箱体采用数控机床加工成型,造型美观大方,并采用无反作用把手,操作简便。

箱体内胆采用进口不锈钢(SUS304)镜面板,箱体外胆采用A3钢板喷塑,增加了外观质感和洁净度。

大型观测视窗附照明灯保持箱内明亮,且利用发热体内嵌式钢化玻璃,随时清晰的观测箱内状况。

配直径50mm的测试孔,可供外接测试电源线或信号线使用

免费送货上门,并安装调试操作介绍(直到需方员工独立操作并满意为止)

 

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