更新日期:2024-09-20
点击次数:2825
简要描述:半导体高低温试验箱是、汽车、家电、科研等领域*的测试设备,用于测试和确定电工、电子及其他产品及材料进行高温、低温、交变湿热度或恒定试验的温度环境变化后的参数及性能;、或恒定湿热试验的温度环境变化后的参数及性能.适用于学校,工厂,,研位,等单位。
高低温交变湿热试验箱是、汽车、家电、科研等领域*的测试设备,用于测试和确定电工、电子及其他产品及材料进行高温、低温、交变湿热度或恒定试验的温度环境变化后的参数及性能;、或恒定湿热试验的温度环境变化后的参数及性能.适用于学校,工厂,,研位,等单位。
半导体高低温老化试验箱型号与参数:
型号 :TH-100 TH-150 TH-225 TH-408 TH-800 TH-1000
工作尺寸 :40×50×40 50×60×50 60×75×50 60×85×80 100×100×80 100×100×100
外型尺寸cm :120×165×115 130×170×125 140×185×130 165×195×155 185×200×175 190×210×185
半导体高低温老化试验箱温度范围:(A:+25℃; B:0℃;C:-20℃; D:-40℃;E:-60℃;F:-70℃)高温:100℃(150℃)
符合标准
试验箱具有较宽的温湿度调节控制范围,可满足标准本产品满足GB 2423.1--2001、GB 2423.2—2001、GB2423.3-2001、GB2423.4-2001等标准《电工电子产品基本环境试验规程》A:低温试验方法,试验B:高温试验方法,试验Ca:恒定湿热试验方法,试验Db:交变湿热试验方法》要求。GB 10592—89、GB/T5170.2-96标准制造件,并可按军标试验要求GJB150.3-86,GJB150.4-86,及非标准制作各种高低温环境试验。并等效满足GJB150.9-86等相应的国标、军标;也可按客户的要求制造非标准产品。
半导体高低温老化试验箱也可按客户需要定制非标试验箱:
温度波动度:±0.5℃
温度偏差: ≤±2℃
湿度范围:30~98% R•H
湿度偏差: +2~-3% R•H
升降温平均速率: 0.7℃~1.0℃/min
时间设定范围: 0~9999 小时
电源要求:AC380V
半导体高低温老化试验箱箱体结构:
箱体采用数控机床加工成型,造型美观大方,并采用无反作用把手,操作简便。
箱体内胆采用进口不锈钢(SUS304)镜面板,箱体外胆采用A3钢板喷塑,增加了外观质感和洁净度。
大型观测视窗附照明灯保持箱内明亮,且利用发热体内嵌式钢化玻璃,随时清晰的观测箱内状况。
配直径50mm的测试孔,可供外接测试电源线或信号线使用
免费送货上门,并安装调试操作介绍(直到需方员工独立操作并满意为止)
:钟, : ; !