温度循环和温度冲击区别

温度冲击适用于电子元气件的安全性能测试提供可靠性试验产品筛选试验等，同时通过此装备试验，可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制温度冲击试验箱下部为低温蓄冷区，上部为高温蓄热区，试件待测品放置在试验箱中部，高温冲击时，上风门打开，形成高温内循环低温冲击时，上风门关闭，下风门打开，形成低温内循环通过不断的冷热冲击，可判断该测试样品的稳定性。

高低温循环冲击试验箱摆放位置的注意事项如下考虑散热效率与维护便利性安装位置需确保设备散热效率高，便于日常检查和维护设备运行时会辐射热量，尤其是风冷型冷热冲击试验箱，需通过冷凝风直接排放热量若房间较小且通风不畅，室内温度会迅速上升，导致设备停止运行并报警因此，摆放时应预留足够的散热。